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廣州儀德公司專業銷售日本理學波譜,波譜不限于材料的形狀,應用多領域金屬元素的測定分析。本文章簡單介紹日本理學ZSXPrimusⅣ波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析,為礦石領域對巖石測定分析提供寶貴經驗。使用儀器分析室內置的相機將巖石樣品中需要關注的測量范圍放大后進行了分析。紅框內擴大了的范圍由右圖表示。可以更精密地指定測量位置。面掃3描分析結果微區測繪測繪數據的測繪視圖統合為以攝像圖和數據(圖、測量數據)來表示。圖示種類有不同模式,可以采用有效的圖示。各測量點的Mg-Kα的譜線比較SQX方法做的定
廣州儀德專業代理日本理學ZSX PrimusIV波長色散X射線光譜儀,波長色散型光譜儀可解決多種不同類型樣品金屬元素分析,有效快速幫助各類行加工、生產。本文章分享ZSX PrimusIV波長色散X射線光譜儀這款設備的特點。硬件最安全、軟件最安心、維護最方便萬一的失誤導致儀器損壞令人十分痛心。高性能的精密分析儀器ZSXPrimusIV設計為即便粉末樣品發生粉末飛散也不會損壞儀器的上照射方式。在軟件上也設計為防止操作失誤的用戶分級管理方式。即便粉末樣品松散下落也不會污染光學系統-上照射方式因為采用上照射方式粉末壓片樣品
簡介:X射線熒光光譜儀(X-rayFluorescenceSpectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調查和研究,地球化學,法醫學,考古學和藝術品,例如油畫和壁畫。使用型態:XRF用X光或其他激發源照射待分析樣品,樣品中的元素之內層電子被擊出后,造成核外電子的躍遷,在被激發的電子返回基態的時候,
廣州儀德專業代理日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀,本次文章主要分享理學中其中一款X射線熒光光譜儀在開啟X射線管時出現下述故障現象?故障現象:無法開啟X射線?錯誤級別:失敗發生部件:XG發生器錯誤原因:與XG發生器通訊控制出錯錯誤代碼:11錯誤及產生原因:X射線發生器沒有初始化,所以不能夠控制XG?維護信息:關閉ZSX軟件,并重新啟動初始化。解決辦法1、按照儀器給出的維護信息,關閉ZSX應用軟件,關掉主機,過5分鐘后,重新開啟X熒光儀,ZSX應用軟件正常運行,X熒光儀主機正常初始化,儀器狀態正常?開啟X-ray時,
廣州儀德公司專業代理日本理學ZSXPrimusⅡ型波長色散X熒光光譜儀,今天分享ZSX PrimusⅡ波長色散X熒光光譜儀在使用過程中頻繁出現X射線發生器發生異常狀態故障現象及故障處理,其錯誤級別:失敗,出錯部位:X射線發生器,錯誤內容:X射線發生器異常狀態,錯誤代碼:23?(故障記錄如下圖片所示)故障處理1、首先排除光管散熱差造成的故障?清潔二次水(內循環水)過濾器濾芯,恢復后,流量有所改善(3.75L/min-3.80L/min),但是故障依然?2、補足二次水(內循環水)水箱,并調節其水壓由0.32MPa-0.
廣州儀德公司專業代理日本理學波長色散X射線熒光光譜儀?,在理學光譜上得到廣泛用戶的好評與支持,日本理學波長色散光譜儀應用非常的廣泛:電子和磁性材料、化學工業、陶瓷及水泥工業、鋼鐵工業、非鐵合金、地質礦產、石油和煤、環境保護。同時檢測材料狀態也比較比樣性:粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。
日本理學ZSX PrimusⅡ型X射線熒光光譜分析儀,該儀器為上照式端窗型單道掃描儀,配備LiF200、PeT、Ge、RX25、RX45共五塊晶體,性能優越,高精密度以及低檢出限,可測試從N~U的的所有元素的定量分析和半定量分析。
波長色散x射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子,使之產生熒光(次級X射線)。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。它的優點是不破壞樣品,分析速度快,適用于測定原子序數4以上的所有化學元素,分析精度高,樣品制備簡單。X射線或其他光子源激發待測物質中的原子,使之產生熒光(次級X射線)。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量色散型。波長色散型XRF光譜儀由X射線管激發源,分
多數操作人員對日本理學波長色散X射線熒光光譜儀檢定規程可能不大清楚或者并沒有具體的操作,儀德公司分享采用日本理學波長色散X射線熒光光譜儀對項目檢定方法操作實例,方便廣大用戶進行學習,本方法來源于網絡數據供參考用,不做商業用。檢定項目操作實例以日本理學X射線熒光光譜儀為例,以表1為技術指標,進行分析測試。1、精密度測試精密度以12次連續重復測量的相對標準偏差RSD表示。每次測量都必須改變機械設置條件,包括晶體、計數器、準直器、2θ角度、濾波片、衰減器和樣品轉臺位置等。上式中:s——n次測量的標
根據JJG810-1993中華人民共和國國家計量檢定規程《波長色散X射線熒光光譜儀》,對儀器進行檢定/校準,在確保各項指標合格的前提下,儀器方可投入使用。本文對檢定中涉及的指標進行具體實驗分析統計,給出詳細的統計結果。并對檢定的項目進行了探討,為下一步檢定規程的修訂提供了建議。波長色散X射線熒光光譜儀檢定規程1993年的版本一直沿用至今天,但是X射線熒光光譜儀已經進行了飛速的發展,如今的波長色散X射線熒光光譜儀器已經發展到了波譜、能譜和微區掃描三者相結合的大型儀器,具備了更優異的檢測性能和新增了掃描性能,并且隨著國
回訪德國斯派克金屬分析光譜儀用戶,維護工作。
今天帶著移動光譜儀到模具鋼廠測樣,下面是相親圖片與數據。數據非常的穩定!
春季來了,南方地區到了回南天的日子,溫、濕度過大會對直讀光譜儀有哪些影響呢?1.超常的溫、濕度是導致儀器銹蝕,霉變和老化的主要原因。要做好儀器室的通風排氣作業。平時要使用自然通風調理室內溫、濕度(如高溫季節或旱季,室外溫度或濕度高于室內時,要關好門窗;反之,室外溫度或濕度低于室內時,要打開門窗,進行調理),使用好冷熱功能的空調做好控溫濕度的工作。寄存精密儀器的實驗必須配備抽濕機;光譜標樣、光學鏡片配件應放在玻璃容器內要放置干燥劑,(如氯化鈣、硅膠等)并要定期更換或除濕。因此,要恰當調理儀器保管室內的溫、濕度,使其堅
德國斯派克分析儀器公司(SPECTRO)推出了第八代SPECTROMAXx (iCAL 2.0智能標準化)火花直讀光譜儀,著重在儀器功能和性能方面進行了改進與創新,以滿足精確的材料控制和鑄造行業快速、精確的元素分析要求。
惠州塔牌水泥廠手持式光譜儀安裝成功.主要是用來檢測金屬材料,更好的發現問題解決問題!
表面深度分布及元素含量分析的重要手段(GD-OES)—材料實驗室研究級、高分辨率輝光放電光譜儀-德國SPECTRUMA GDA650HR正式落戶DFG技術中心。SPECTRUMA GDA650HR汽車車身及部件的損壞主要有事故損壞、磨損損壞、腐蝕損壞等三種形式,其中腐蝕損壞最為嚴重。汽車上所使用的材料主要以金屬材料為主,金屬材料普遍存在著腐蝕問題。汽車零部件金屬表面腐蝕不僅破壞汽車的外觀,還直接影響汽車的使用壽命,同時帶來了環境的污染,事故的發生以及材料和能源的浪費。?為此,每一輛汽車成品的出廠都需經過
高端金屬分析的真正革命 ——世界首臺CMOS探測器(互補金屬氧化物)的直讀光譜儀正式安裝日前,富士和機械工業(湖北)有限公司安裝了第一臺CMOS探測器的德國斯派克SPECTROLAB直讀光譜儀,為該司熔煉鑄造工藝保駕護航。
德國斯派克新型號LAB S直讀光譜儀今日安裝驗收投入使用,每天700多個樣品!數據非常好!直讀光譜儀LAB S現場照片
碳硅儀和火花直讀光譜儀目前市場中,火花直讀光譜儀應用在爐前分析市場成為了較常規的分析手段,爐前分析有專門的碳硅儀,這兩種儀器有什么區別,我們又該如何選擇呢?碳硅儀鑄鐵冶煉過程中,曲線分析鐵水中碳和硅元素的含量,沒錯,直接用鐵水進行分析,鐵水倒入鉗鍋后立馬進行,分析時間大多是1分40秒。總而言之,它能夠檢測鐵水中的碳硫,檢測的原理是通過微處理器進行溫度曲線的采集,通過鐵水結晶法來測量計算碳硅成份及鐵水品質,通過改進的求值方法進行工作。直讀光譜儀火花直讀光譜儀的優點在于全元素的分析,同時分析樣品中的多種元素,十幾或者幾
德國斯派克分析儀器公司SPECTRO全新研發的垂直同步雙觀測(DSOI)技術為提升ICP-OES的靈敏度提供了一種全新的解決方案。采用該技術解決了等離子體觀測的核心問題,靈敏度是傳統垂直觀測等離子體儀器的數倍,性能價格比優異。SPECTRO創新的垂直同步雙觀測(DSOI)方式,使用兩個光學接口捕獲來自垂直等離子體的發射光,使得微弱信號的檢測能力大幅提升,同時又允許高濃度、重基體進樣。進一步降低了記憶效應和污染風險。DSOI技術將傳統垂直觀測系統的靈敏度提高了數倍,避免了垂直雙觀測結構的復雜缺點和降低了用戶使用成本。