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斯派克XEPOS能量色散x射線熒光光譜儀(ED-XRF)重新定義ED-XRF分析特殊性能的新水平。 新斯派克XEPOS光譜儀代表了能量色散x射線熒光技術的飛躍。它提供突破性的進步multi-elemental分析專業,小,微量元素濃度。新發展激勵和檢測提供出色的靈敏度和檢測限制收益顯著的精密度和準確度。
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本文建立了手持式能量色散型X-射線熒光光譜儀xSORT直接測定粉末紅土鎳礦樣品中Fe,Ni,Cr,Mn,Ti,Zn,Ca含量的分析方法。
能量色散X射線熒光光譜儀由X射線光管、樣品室、準直器、探測器及技術電路和計算機組成。此外,亦可在樣品前加一單色器,達到降低背景的目的,以改善色散X射線熒光光譜儀的檢出限。它與波長色散X射線熒光光譜儀的顯著不同是分光晶體,而是直接用能量探測器來分辨特征譜線,達到定性和定量分析的目的。如圖:能量色散X射線熒光光譜儀 當樣品中待測元素的特征射線進入能量探測器時,既會產生電子孔穴對,其數量正比于入射光子的能量,經過前置放大器,產生典雅脈沖。由于前方產生的信號幅度小,信噪比低,需要慢脈沖成型放大器將其放大,并采用濾
目 錄一、 WEEE及RoHS指令測試手段二、 產品特點和性能指標三、 配套環境和人員要求四、 標準配置附件五、 硬件耗材費用六、 儀器主要損耗七、 測試效率八、 售后服務九、 技術資料、培訓、安裝、調試及驗收十、 儀器基本知識十一
德國斯派克分析儀器公司推出的SPECTRO MIDEX微區分析X射線熒光光譜儀適合于電子電氣產品微小樣品以及微小區域以及整機的元素分析,分析樣品的形態可以為固體或者液體,分析過程對樣品沒有損害。樣品室有易于調節的樣品臺,通過20倍率變焦攝像系統和激光指位系統,可準確的確定測量位置。X射線照射面積小可選0.2mm小焦點聚焦面積,能量無損失,定位更加精準,可以測試到細小的焊端,引腳和BGA焊球,測量點直徑小為1.0mm。同一個樣品在同一臺機器測試多次的結果偏差小于0.03%,在不同的機臺測試同一個樣品的結果偏差小于
ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀,其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類,波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發源、分光晶體和測角儀、探測器等,而能量色散光譜儀則只需激發源和探測器和相關電子與控制部件,相對簡單。相對應的X射線熒光光譜儀有:手持式ROHS分析儀斯派克臺式小焦點X射線熒光光譜儀
REACH法規即“化學品注冊、評估、許可和限制”,是歐盟對進入其市場的所有化學品進行預防性管理的法規,該法規自2007年實施以來,不僅對我國出口化工企業帶來了一系列長期的沖擊,也對包括紡織、機電、玩具、家具等在內的下游產品企業的生產、管理和出口產生深遠影響。近年來,歐盟對于REACH法規的消費品監管內容不斷更新,僅2015年就將有(EU) No 474/2014、(EU) No 1272/2013等四個修訂案生效,涉及十多種消費產品,同時歐盟對消費品符合REACH法規的執行監管也不斷強化,出口企業應引起重視和關注。