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儀器:135-0001-7008
標樣:180-7108-0982
大氣粉塵濾片分析事例(中國環(huán)境標準)日本理學(xué)正是大氣顆粒物元素分析的“老字號”,90年代已經(jīng)跟中日友好環(huán)境保護中心合作建立大氣粉塵濾片的分析方法。使用XRF分析大氣粉塵非常的容易。濾片基本上原樣分析,使用上照式波長色散x射線熒光光譜儀時不用擔(dān)心粉塵落下,濾片一般對X射線沒有那么耐性,所以調(diào)整分析條件更好1、把功率下降一點2、使用濾光片(Be,Al,Ni)必備工具:樣品處理工具配件(鋁制或者鈦制中空樣品杯,樣品支持板等等)推薦:對III型追加Ge晶體補充:大氣粉塵定量分析
石油分析(質(zhì)量控制)-汽油中鉛的定量分析事例-1、鉛是抗震劑,現(xiàn)在也為航空燃料使用,但是為了汽車燃料不可以。2、有時從煉油廠混入,有時故意混合(違反)。3、鐵/錳也是抗震劑。4、硫/氯是原油里含有的,都是發(fā)動機不好。5、硫也是全球規(guī)制的元素,因為對大氣污染的原因之一。分析設(shè)備:波長色散x射線熒光光譜儀
固體廢棄物分析(篩選分析)1、在污水殘渣的原樣分析,對過半數(shù)元素通過SQX分析的固定角分析滿足HJ781-2016的LLD規(guī)定。雖然HJ781-2016是ICP-OES的標準,但是WDXRF也能作為篩選分析法使用。2、為了防止從樣品揮發(fā)成分的污染,使用樣品薄膜覆蓋殘渣樣品。3、如果可以的話,推薦灰化樣品。4、樣品設(shè)置時,上照式儀器很方便。推薦儀器:理學(xué)ZSX Primus III=/IV波長色散X射線熒光光譜儀必須品:樣品處理工具配件(MicroCarry,中空樣品杯,樣品薄膜,微量粉末容器),SQX軟件
臺式熒光光譜儀現(xiàn)場演示,檢測RoHS!
文章中使用波長色散X射線熒光光譜法測定潤滑油中添加劑和磨損金屬元素的含量,較好地克服磨損顆粒的尺寸對測定結(jié)果的影響,樣品不需要前處理,是一種快速、高效、準確度高的方法。
中檢集團某公司便攜式土壤分析儀應(yīng)用成功案例!購買手持式X射線熒光光譜儀(便攜式土壤分析儀)主要在野外和現(xiàn)場分析土壤樣品,初步篩查土壤污染物成分和種類及污染程度。土壤和淤泥重金屬污染監(jiān)測,也可以分析礦石、尾礦和精礦等樣品。
D2模具鋼具有高的耐磨性、淬透性、微變形、高熱穩(wěn)定性、高抗彎強度,D2合金具鋼僅次于高速鋼,是沖模、冷鐓模等的重要材料。運用斯派克手持式X熒光光譜儀可對D2模具鋼金屬成分進行分析,金屬分析速度快,時間短,分析精準度高。
Cr12MoV鋼是一種常見的五金冷作模具鋼,具有很高的耐磨性、淬透性,微變形、高熱穩(wěn)定性、高抗彎強度性能,廣泛應(yīng)用于模具的制造。運用斯派克手持式X熒光光譜儀可對金屬牌號進行分析,檢測金屬元素,SPECTRO xSORT可以在較短的分析時間給出金屬牌號以及實驗室級的材料化學(xué)組成分析結(jié)果。
45#鋼適用于制造較高強度的運動零件,如空壓機、泵的活塞、蒸汽渦輪機的葉輪,重型及通用機械中的軋制軸、連桿、蝸桿、齒條、齒輪、銷子等。運用斯派克手持式X熒光光譜儀可對金屬牌號進行分析,檢測金屬元素,可以給出金屬牌號以及實驗室級的材料化學(xué)組成分析結(jié)果。
2083模具鋼為德國布德魯斯特殊鋼,是一種具有良好耐腐蝕、耐磨性、淬透性和切削性的塑料模具鋼。德國斯派克手持式X熒光光譜儀,能夠在金屬牌號鑒別方面做出較大的應(yīng)用,金屬分析速度快,時間短,分析精準度高。
廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司(原廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司)創(chuàng)立于2005年,十三年來堅持服務(wù)于國內(nèi)實驗分析領(lǐng)域,專注于各類儀器的研究制造與營銷服務(wù),是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實驗室而組建的高新技術(shù)企業(yè)。 產(chǎn)品資源豐富,種類齊全,涵蓋實驗室通用儀器、化學(xué)分析、表面科學(xué)等,如全譜直讀光譜儀、波長\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮
銅礦物在自然界存在形式多樣,有原生帶次生富集帶和氧化帶等,共生礦物和伴生礦物眾多,對于此類礦物的鑒別需要借助化學(xué)分析方法或微區(qū)分析技術(shù)。
石灰?guī)r和白云巖中硫和氯的含量不同會影響材料運用效應(yīng)。測定石灰?guī)r和白云巖中硫的含量一般采用燃燒碘量法,測定氯的含量就采用氯化銀比濁法。運用X射線熒光光譜儀可對巖石中元素含量進行測定。
在波長色散X射線熒光光譜儀在金屬元素的測定分析已經(jīng)是應(yīng)用非常的成熟具有典型的用戶及實驗配套方案。其中,在涂層方面的檢測也有很好的應(yīng)用,如涂料紙上的涂料中有線狀異物,用CCD定點分析可以不破壞樣品得知其組成成分。CCD定點分析是利用儀器的內(nèi)置CCD相機和樣品臺驅(qū)動裝置,指定樣品表面任意位置,進行定性或定量分析,這是X射線熒光光譜儀ZSX系列新添加的功能。另外,在此介紹如何使用樣品臺驅(qū)動裝置對檢測出的組成成分進行元素分布分析。操作部分一、分析儀器日本理學(xué) 波長色散型X射線熒光光譜
廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司(原廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司)創(chuàng)立于2005年,十三年來堅持服務(wù)于國內(nèi)實驗分析領(lǐng)域,專注于各類儀器的研究制造與營銷服務(wù),是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實驗室而組建的高新技術(shù)企業(yè)。在日本理學(xué)波長色散X熒光光譜儀有專業(yè)的銷售經(jīng)驗及技術(shù)團隊,而且在各行業(yè)領(lǐng)域應(yīng)用非常的廣泛,其中對礦石、巖石測定分析也非常的成熟。溶結(jié)凝灰?guī)r由熔巖凝固而成,分為玻璃狀的微區(qū)鏡面部分和火山灰等基質(zhì)部分。鏡面部分是顯示巖漿本質(zhì)的物質(zhì),通過對其組成的分析,可以獲得重要的信息。
廣州儀德公司專業(yè)代理日本理學(xué)波長X射線熒光光譜儀,在近年來,在X射線熒光分析的樣品置備方面,對微小及微量樣品的要求日趨嚴格。針對用傳統(tǒng)儀器不能解決的樣品制備及測試等問題,通過對儀器的高靈敏度化和新方法的開發(fā),不僅解決了以上問題,而且應(yīng)用范圍越來越廣泛。下面分享如何應(yīng)用ZSX Primus系列波長X射線熒光光譜儀能夠以CCD相機拍攝樣品表面后得到的圖象為基礎(chǔ),指定任意測試位置進行定性分析的儀器,通過對一片片狀切削屑進行定性分析及半定量值分析的結(jié)果,判別其鋼種。操作部分一、儀器波長色散X射線熒光光譜儀(ZSX Prim
廣州儀德X射線熒光光譜儀對礦石領(lǐng)域的金屬元素分析有著豐富的經(jīng)驗及完整的配套方案,下面分享通過日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖的元素分析。俗稱御影石的花崗巖屬于酸性深成巖,是由石英,斜長石,云母,角閃石等構(gòu)成的礦物質(zhì)。在此介紹如何使用ZSX新功能---CCD相機和樣品臺驅(qū)動裝置組合,對花崗巖進行CCD元素分布分析。CCD元素分布分析是利用儀器內(nèi)置的CCD相機對直接觀察樣品表面,指定任意位置進行的元素分析。實驗操作部分一、儀器ZSX系列波長色散X射線熒光光譜儀(日本理學(xué))二、樣品制備將樣品按樣品架大小切割,打磨
礦石開采及礦石判定需要的精準的進行分析測定廣州儀德代理的日本理學(xué)X射線熒光光譜儀可以輕松解決,下面通過實際案例分享測定方法,為礦產(chǎn)行業(yè)提供寶貴經(jīng)驗。為對局部變色堆積巖的變色原因進行無損檢查,使用X射線熒光分析儀作CCD定點分析及元素分布分析。CCD定點分析和元素分布分析是根據(jù)儀器內(nèi)置的CCD相機和樣品臺驅(qū)動裝置的組合,指定任意位置進行測試的方法。就此分析而言,這是一種非常有效的測試方法。這次以分析面積為0.5mm?的小分析直徑進行元素分布分析。即使是小直徑分析,也可得到很高的精度,在短時間內(nèi)得到滿意的結(jié)果。實驗操作
現(xiàn)在各行各業(yè)都已復(fù)工,我們也開始去回訪老用戶對我們光譜儀的使用情況去做回訪,讓用戶更好的使用和日常維護好光譜儀,今天我們來到中山對已使用我們手持式光譜儀的用戶進行回訪。看看他們在使用中遇到的困難和需要我們幫他們解決存在使用的情況進行回訪工作。上午走訪:這臺小臺式熒光光譜儀是一家做電器的企業(yè)在使用,他們主要是對來料做RoHS檢測這方式。他們使用這臺熒光光譜儀有4年多了,現(xiàn)在光譜儀還是非常的穩(wěn)定,做好日常儀器保養(yǎng)工作就好。下午走訪:這臺手持式光譜儀是一家做汽車配件,模具鋼來料檢測,用了5年時間,儀器都沒有問題。保養(yǎng)的也
廣州儀德公司專業(yè)銷售日本理學(xué)波譜,波譜不限于材料的形狀,應(yīng)用多領(lǐng)域金屬元素的測定分析。本文章簡單介紹日本理學(xué)ZSXPrimusⅣ波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析,為礦石領(lǐng)域?qū)r石測定分析提供寶貴經(jīng)驗。使用儀器分析室內(nèi)置的相機將巖石樣品中需要關(guān)注的測量范圍放大后進行了分析。紅框內(nèi)擴大了的范圍由右圖表示。可以更精密地指定測量位置。面掃3描分析結(jié)果微區(qū)測繪測繪數(shù)據(jù)的測繪視圖統(tǒng)合為以攝像圖和數(shù)據(jù)(圖、測量數(shù)據(jù))來表示。圖示種類有不同模式,可以采用有效的圖示。各測量點的Mg-Kα的譜線比較SQX方法做的定