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環(huán)境分析應(yīng)用事例-排水分析

環(huán)境分析應(yīng)用事例排水分析（代替標(biāo)準(zhǔn)的篩選分析）1.除了汞之外，理學(xué)大型WDXRF都滿足GB5080要求的規(guī)定值。2.一般下照式對(duì)液體樣品合適，但是對(duì)含有固體浮游物的樣品，上照式波長(zhǎng)色散x射線熒光光譜儀很合適。3.理學(xué)儀器對(duì)半定量分析有很多種類校正功能，理學(xué)ZSX軟件的優(yōu)點(diǎn)。4.在這兒介紹了定性半定量分析，如果能準(zhǔn)備標(biāo)樣，建立工作曲線進(jìn)行定量分析更好。必須品：1.樣品處理工具配件（上照式液體容器等）2.SQX軟件3.氦氣置換機(jī)構(gòu)推薦：SQX散射線FP法

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環(huán)境分析應(yīng)用事例石油分析（質(zhì)量控制）

環(huán)境分析應(yīng)用事例石油分析（質(zhì)量控制）國(guó)家標(biāo)準(zhǔn) 車用汽油一、日本（揮發(fā)油等的質(zhì)量確保法）1、 Pb≦1ppm(沒有WDXRF方法標(biāo)準(zhǔn))2、 S≦10ppm(JIS K 2541-7)二、中國(guó)（中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn) GB17930-2016）1、 GB IV50 mg/kg, GB V-VIB≦10ppm(GB/T11140-2007)2、金屬（沒有WDXRF方法標(biāo)準(zhǔn)）GB17930-2016密度-濃度換算0.72KG

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固體廢棄物分析方法（篩選分析）

固體廢棄物分析（篩選分析）1、在污水殘?jiān)脑瓨臃治觯瑢?duì)過半數(shù)元素通過SQX分析的固定角分析滿足HJ781-2016的LLD規(guī)定。雖然HJ781-2016是ICP-OES的標(biāo)準(zhǔn)，但是WDXRF也能作為篩選分析法使用。2、為了防止從樣品揮發(fā)成分的污染，使用樣品薄膜覆蓋殘?jiān)鼧悠贰?、如果可以的話，推薦灰化樣品。4、樣品設(shè)置時(shí)，上照式儀器很方便。推薦儀器：理學(xué)ZSX Primus III=/IV波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀必須品：樣品處理工具配件（MicroCarry,中空樣品杯，樣品薄膜，微量粉末容器），SQX軟件

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關(guān)于水泥窯協(xié)同處置固體廢物的標(biāo)準(zhǔn)

關(guān)于水泥窯協(xié)同處置固體廢物的標(biāo)準(zhǔn)《GB30485-2013水泥窯協(xié)同處置的固體廢物污染控制標(biāo)準(zhǔn)》《固體廢物無機(jī)元素的測(cè)定波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法征求意見稿》《HJ-662-2013水泥窯協(xié)同處置固廢廢物環(huán)境保護(hù)技術(shù)規(guī)范》一：GB30485參考HJ662.如果HJ662-2013要求的“”最大允許投加量就是各個(gè)原料（常規(guī)原料。常規(guī)燃料，廢物）的含量值，使用WDXRF控制污染不那么困難。（從分析上的觀點(diǎn)，這個(gè)限制值比較高。）二：因?yàn)镠J662不規(guī)定分析方法，所以應(yīng)該可以采用無標(biāo)的半定量分析。三

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波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀

來源：分析測(cè)試百科網(wǎng)我國(guó)學(xué)者對(duì)不同時(shí)期WDXRF的進(jìn)展曾予以評(píng)述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來看，依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上，但儀器面目全新。縱觀30年來的發(fā)展軌跡，可總結(jié)出如下特點(diǎn) 。(1) 現(xiàn)代控制技術(shù)的應(yīng)用使儀器精度大幅度提升。WDXRF譜儀在制造過程中，從20世紀(jì)80年代起，一些機(jī)械部件為電子線路所取代，電子線路又進(jìn)而被軟件所取代。如一些儀器制造商分別用無齒輪莫爾條紋測(cè)角儀和激光定位光學(xué)傳感器驅(qū)動(dòng)測(cè)角儀，取代傳統(tǒng)θ/2θ齒輪機(jī)械運(yùn)動(dòng)的測(cè)角儀，2θ掃描精度也由齒輪機(jī)械運(yùn)動(dòng)的±0.001&d

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RoHS檢測(cè)儀之XRF的原理

X射線定義：l X射線是一種波長(zhǎng)較短的電磁輻射,通常是指能量范圍在0.1-100KeV的光子.X射線與物質(zhì)的相互作用主要有熒光.吸收.散射三種。X射線的熒光物質(zhì)中的組成元素產(chǎn)生特征輻射,通過測(cè)量和分析樣品產(chǎn)生的X射線熒光,即可獲得樣品中的元素組成,得到物質(zhì)成分的定性和定量信息.l X射線光譜儀通常可分為兩大類:波長(zhǎng)色散(WDXRF)和能量色散(EDXRF)X射線熒光光譜儀.l X射線熒光分析技術(shù)的缺點(diǎn)是檢出限不夠低,不適于分析輕元素,依賴標(biāo)樣,分析液體樣品手續(xù)比較麻煩.由于電感耦合等離子質(zhì)譜儀(ICP-MS)具有極

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RoHS檢測(cè)儀分析原理及適用儀器

ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件，相對(duì)簡(jiǎn)單。相對(duì)應(yīng)的X射線熒光光譜儀有：手持式ROHS分析儀斯派克臺(tái)式小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀

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