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徠卡倒置式工業顯微鏡 Leica DMi8

在競爭中保持領先是您事業前進的動力。無論您從事金相學、醫療設備制造還是微電子領域，速度都顯得至關重要。您可根據自身需求定制徠卡這款高度模塊化的倒置式顯微鏡。它將徠卡優異的光學品質、豐富的對比度模式以及直觀易用的軟件集于一身，有助于加速您的工作流程。

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德國斯派克等離子體發射ICP光譜儀 ICP光譜分析儀 SPECTRO BLUE

SPECTRO BLUE系統配備斯派克專有的智能分析VISION軟件。憑借其高度適應性的接口，該軟件使得它的所有用戶很容易采取充公利用儀器操作簡單和獨特的分析能力。

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德國徠卡全手動Leica DM ILM 倒置金相顯微鏡工業金相顯微鏡系統

徠卡DMILM倒置金相顯微鏡可配多種觀察筒,適應不同的要求與檢測觀察方式,操作簡單,檢測快捷高效。光學設計上采用先進的HC無限遠軸向、徑向雙重色差校正光學技術，徹底消除雜散光等干擾因素；整個光學系統內, 對涉及成像質量的所有組件(物鏡、鏡筒透鏡、目鏡筒、目鏡、照相接口等) 進行優化組合，實現圖像分辨率和反差的優化，得到銳利圖像的同時追求高分辨率。

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德國斯派克移動式火花直讀光譜儀SPECTRO PORT

2017年，德國斯派克公司隆重推出了新便攜式火花直讀光譜儀-SPECTROPORT

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德國斯派克便攜式光譜儀移動式光譜分析儀 SPECTRO TEST

SPECTRO TEST集中了ICAL智能標準化系統，APF自動程序識別系統以及特殊設計的光學系統等技術，使其成為光譜技術的一個里程碑。與CCD技術等先進技術一起，使SPECTRO TEST成為同類光譜儀中的領先者。該儀器具有分析精度高、穩定性好、操作方便、應用靈活、體積小、重量輕的特點。

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日立臺式電子顯微鏡電鏡 TM4000/TM4000Plus

日立TM4000掃描電鏡獨特的低真空系統使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。TM4000優化提供5kV、10kV、15kV三種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。

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日立鎢燈絲掃描電鏡FlexSEM 1000

FlexSEM1000是日立高新公司新推出的一款機型小巧性能優異的鎢燈絲電鏡，擁有大束流和低球差的物鏡和聚光鏡設計，配備了高分辨率二次電子探頭及高靈敏度五分割背散射探頭，具有卓越的低真空成像能量，并且采用新的SEM MAP高精度導航系統及新全的自動化功能，使性能更加優越，使用更加簡便。

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德國斯派克臺式小焦點X射線熒光光譜儀能譜分析儀 SPECTRO MIDEX

斯派克臺式小焦點X射線熒光光譜儀-SPECTRO MID：在工業及科研領域，經常需要對樣品進行非破壞性的元素分析，同時對分析面積及靈敏度具有苛刻的要求，如RoHS分析，貴金屬檢測等。

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德國斯派克便攜式能量色散X射線熒光分析儀 SPECTRO SCOUT

現場檢定礦物及地質樣品中的元素組成是一件充滿挑戰的事，野外條件瞬息萬變，但無論是已勘探開發的區域，還是待勘探開發的處女地，其元素含量的分析要求是一成不變的。在大多數情況下需要在采樣現場給出分析結果，將樣品送回實驗室意味著將耗費大量的時間而導致項目的延遲。事實上，在實驗室對所有樣品進行分析是不可能的，存在著不可操作的問題。實時現場分析是確定地質調查區域，以及對勘探開發方向做出調整的基本手段。實時現場分析數據的準確性是不可忽視的，在各個含量段，從痕量元素到百分量級；均需給出準確的結果。現在，上述要求均可由德國斯派克分析儀器公司生產的實驗室級的便攜式能量色散X射線熒光分析儀SPECTRO SCOUT來實現，該儀器可在現場快速提供準確、可靠的數據，她是您的移動實驗室。

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徠卡倒置式金相顯微鏡 Leica DMi8

在競爭中保持領先是您事業前進的動力。無論您從事金相學、醫療設備制造還是微電子領域，速度都顯得至關重要。您可根據自身需求定制徠卡這款高度模塊化的倒置式顯微鏡。它將徠卡優異的光學品質、豐富的對比度模式以及直觀易用的軟件集于一身，有助于加速您的工作流程。

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德國斯派克能量色散x射線熒光光譜儀 SPECTRO XEPOS

斯派克XEPOS能量色散x射線熒光光譜儀(ED-XRF)重新定義ED-XRF分析特殊性能的新水平。新斯派克XEPOS光譜儀代表了能量色散x射線熒光技術的飛躍。它提供突破性的進步multi-elemental分析專業,小,微量元素濃度。新發展激勵和檢測提供出色的靈敏度和檢測限制收益顯著的精密度和準確度。

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德國斯派克小型臺式X射線熒光光譜儀 RoHS分析儀 SPECTRO xSORT

德國斯派克X射線熒光光譜儀 ROHS分析儀 SPECTRO xSORT-BT 選配的樣品測試吊艙可將儀器轉化為臺式EDXRF，在保障任何樣品測試輻射安全的同時，極大的提升設備對極微小樣品測試能力并取得更低的檢測下限

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徠卡正置材料顯微鏡 Leica DM4 M & DM6 M

您是否需要在許多樣品和材料科學與分析領域進行成像、測量并分析類似特點？Leica DM4 M 和 Leica DM6 M 是您理想的工業顯微鏡，無論您是新手還是專業人士。·使用 Leica DM4 M 進行手動例程檢查·使用 Leica DM6 M 進行全自動材料分析

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實驗室快速分析：偏振XRF光譜儀

斯派克XEPOS能量色散x射線熒光光譜儀(ED-XRF)重新定義ED-XRF分析特殊性能的新水平。新斯派克XEPOS光譜儀代表了能量色散x射線熒光技術的飛躍。它提供突破性的進步multi-elemental分析專業,小,微量元素濃度。新發展激勵和檢測提供出色的靈敏度和檢測限制收益顯著的精密度和準確度。

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