廣州儀德公司專業銷售日本理學波譜，波譜不限于材料的形狀，應用多領域金屬元素的測定分析。本文章簡單介紹日本理學ZSXPrimusⅣ波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析，為礦石領域對巖石測定分析提供寶貴經驗。使用儀器分析室內置的相機將巖石樣品中需要關注的測量范圍放大后進行了分析。紅框內擴大了的范圍由右圖表示。可以更精密地指定測量位置。面掃3描分析結果微區測繪測繪數據的測繪視圖統合為以攝像圖和數據(圖、測量數據)來表示。圖示種類有不同模式，可以采用有效的圖示。各測量點的Mg-Kα的譜線比較SQX方法做的定

廣州儀德專業代理日本理學ZSX PrimusIV波長色散X射線光譜儀，波長色散型光譜儀可解決多種不同類型樣品金屬元素分析，有效快速幫助各類行加工、生產。本文章分享ZSX PrimusIV波長色散X射線光譜儀這款設備的特點。硬件最安全、軟件最安心、維護最方便萬一的失誤導致儀器損壞令人十分痛心。高性能的精密分析儀器ZSXPrimusIV設計為即便粉末樣品發生粉末飛散也不會損壞儀器的上照射方式。在軟件上也設計為防止操作失誤的用戶分級管理方式。即便粉末樣品松散下落也不會污染光學系統-上照射方式因為采用上照射方式粉末壓片樣品

簡介：X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學，法醫學，考古學和藝術品，例如油畫和壁畫。使用型態：XRF用X光或其他激發源照射待分析樣品，樣品中的元素之內層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發的電子返回基態的時候，

廣州儀德專業代理日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀，本次文章主要分享理學中其中一款X射線熒光光譜儀在開啟X射線管時出現下述故障現象?故障現象:無法開啟X射線?錯誤級別:失敗發生部件:XG發生器錯誤原因:與XG發生器通訊控制出錯錯誤代碼:11錯誤及產生原因:X射線發生器沒有初始化,所以不能夠控制XG?維護信息:關閉ZSX軟件,并重新啟動初始化。解決辦法1、按照儀器給出的維護信息,關閉ZSX應用軟件,關掉主機,過5分鐘后,重新開啟X熒光儀,ZSX應用軟件正常運行,X熒光儀主機正常初始化,儀器狀態正常?開啟X-ray時,

廣州儀德公司專業代理日本理學ZSXPrimusⅡ型波長色散X熒光光譜儀，今天分享ZSX PrimusⅡ波長色散X熒光光譜儀在使用過程中頻繁出現X射線發生器發生異常狀態故障現象及故障處理，其錯誤級別:失敗，出錯部位:X射線發生器，錯誤內容:X射線發生器異常狀態，錯誤代碼:23?（故障記錄如下圖片所示）故障處理1、首先排除光管散熱差造成的故障?清潔二次水(內循環水)過濾器濾芯，恢復后，流量有所改善(3.75L/min-3.80L/min)，但是故障依然?2、補足二次水(內循環水)水箱，并調節其水壓由0.32MPa-0.

廣州儀德公司專業代理日本理學波長色散X射線熒光光譜儀?，在理學光譜上得到廣泛用戶的好評與支持，日本理學波長色散光譜儀應用非常的廣泛：電子和磁性材料、化學工業、陶瓷及水泥工業、鋼鐵工業、非鐵合金、地質礦產、石油和煤、環境保護。同時檢測材料狀態也比較比樣性：粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。

波長色散x射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。它的優點是不破壞樣品，分析速度快，適用于測定原子序數4以上的所有化學元素，分析精度高，樣品制備簡單。X射線或其他光子源激發待測物質中的原子,使之產生熒光（次級X射線）。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量色散型。波長色散型XRF光譜儀由X射線管激發源，分

理學Micro-ZUL波長色散X射線熒光低硫分析儀是儀德公司代理的一款進口產品，它是石油基燃料中硫分析的理想解決方案，具有較低的檢測限，S(LLD)0.3ppm。穩固的光學系統安裝在真空環境中，配置專門設計的RX-9雙彎曲分光晶體，Mirco-ZULS提供一貫的高靈敏度測量。從校準到日常分析的所有操作，可以通過簡易操作界面來執行，即使初次使用的用戶也可以快速掌握。

根據JJG810-1993中華人民共和國國家計量檢定規程《波長色散X射線熒光光譜儀》，對儀器進行檢定/校準，在確保各項指標合格的前提下，儀器方可投入使用。本文對檢定中涉及的指標進行具體實驗分析統計，給出詳細的統計結果。并對檢定的項目進行了探討，為下一步檢定規程的修訂提供了建議。波長色散X射線熒光光譜儀檢定規程1993年的版本一直沿用至今天，但是X射線熒光光譜儀已經進行了飛速的發展，如今的波長色散X射線熒光光譜儀器已經發展到了波譜、能譜和微區掃描三者相結合的大型儀器，具備了更優異的檢測性能和新增了掃描性能，并且隨著國

多數人到現在還不清楚如何的區分波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型光譜儀的之間的區別到底有哪一些不一樣的，本文中使用表格的形式簡單的介紹兩者之間的原理結構，一分鐘快速掌握其中的奧秘。項目波長色散型能量色散型原理X熒光經晶體分光，在不同行射角測量不同元素的特征線X熒光直接進入檢測器，經電子學系統處理得到不同元素(不同能量)的X熒光能譜結構為滿足全波段需要，配置多塊晶體，根據單道掃描和多道同時測定的需要，設置掃描機構和若干固定通道無掃描機構，只用一個檢測器和多道脈沖分析器，結構簡單得多，無轉動件，可靠性高X-光管高功

日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型X射線熒光光譜儀兩款產品各有獨自的優勢，針對不同類的樣品檢測各有著長處之處，波長色散型X熒光光譜儀在分析上有著很高的精確度和精密度，能量色散型多數用去牌號的快速檢測和篩選。下面從這兩款光譜儀的原理與功能介紹它們之間的存的區別有哪些。

日本理學波長色散型熒光光譜儀(WD-XRF),一般由光源(X-射線管)、樣品室、分光晶體和檢測系統等組成。為了準確測量衍射光束與入射光束的夾角，分光晶體系安裝在-一個精密的測角儀上，還需要一龐大而精密并復雜的機械運動裝置。由于晶體的衍射，造成強度的損失，要求作為光源的X射線管的功率要大,一般為2~3千瓦。但X射線管的效率極低，只有1%的電功率轉化為X射線輻射功率,大部分電能均轉化為熱能產生高溫,所以X射線管需要專門的冷卻裝置(水冷或油冷)，因此波譜儀的價格往往比能譜儀高。

ZSX Primus Ⅱ波長色散型X射線熒光光譜儀在使用過程上假如出現了PC探測器的PHA調節不能正常進行怎么處理，廣州市儀德科學儀器有限公司工程師教你一招，自己也可以進行故障排除。故障現象：進行PHA日常調節時，PC探測器微分曲線譜峰太低，嚴重變形，無法計算分辨率、“錯誤內容”提示“因為脈高微分曲線的譜峰太低，所以不能進行PHA調節”，“維護信息”顯示：“可能使用了錯誤的PHA調節樣品，或者PHA調節的條件設置錯誤”。

ZSX Primus Ⅱ 波長色散型X射線熒光光譜儀在檢測過程中由于不正確的使用或者沒有定期的進行維護保養，容易造成機器的故障，下面跟大家分享ZSX Primus系列中二代波長色散型X射線熒光光譜儀在分析中出現X光管故障的現象、產生的原因與最終解決的二種方法。第一故障現象：正常使用過程中，X光管忽然關閉。“錯誤內容”提示“X射線發生器發生異常”，“維護信息”顯示：“探測到X射線發生器有異常情況”。原因分析：X射線發生器本

進口ZSX Primus Ⅱ色散型X射線熒光光譜儀是日本理學推出的波長熒光光譜儀，性能先進，操作方便，已 廣泛應用于地質、鋼鐵、冶煉、醫藥等多領域。但在實際使用過程中有時會出現這樣那樣的故障，影響正 常測試工作的及時性和測試結果的準確性，文章針對ZSX Primus Ⅱ波長色散型X射線熒光光譜儀的初始化無法進行的兩個常見的故障現象進行介紹，介紹故障出現的問題、原因分析及解決方法，希望對大家有所幫助。初始化無法進行故障一故障現象：安裝新光管后主機與計算機不能連接，也沒有錯誤信息提示。原因分析：錯誤現象表明計算機系統探

理學多年的積累研制的Supermini200 小型波長色散型儀器， 由高性能的硬件和最新軟件的完美結合，使得臺式機具有高精度、高穩定的機能。Supermini200 波長色散型臺式X射線熒光光譜儀檢測性能非常的高，同一個畫面上的分析、測量、結果確認操作簡單。Supermini200還配置了高功率200W的Pd靶陶瓷管，能夠進行高靈敏度的分析。Supermini200波長色散型X射線熒光光譜儀能快速解決各行業元素分析檢測問題，大大提高工作效率。下面簡單介紹其中部分分析應用：部分應用1、含有稀土類重元素等氧化物的定性分

隨著用戶的需要也變得先進和多樣化，理學集團長年以來的技術研發、工藝技巧、分析方法之精髓匯集于一體，不斷滿足用戶不斷改變的需求，理學集團研發了先進的XRF-ZSX Primus系列在各大行業中被廣泛的應用。其中XRF-ZSX Primus/III+/IV 波長色散型X射線熒光光譜儀在技術上更加的先進，下面為大家簡單介紹波長色散型X射線熒光光譜儀在部分領域中的應用。部分應用1、鐵礦石分析 ASTM C114粉狀硅酸鹽水泥分析2、熔片法巖石分析3、FeCoNi合金元素分析4、低合金鋼、不銹鋼中Si,Mn,P,S,Ni,C

X射線熒光光譜分析在20世紀80年代初已是一種成熟的分析方法，是實驗室、現場分析主、次量和痕量元素的首選方法之一。X射線熒光光譜儀（XRF）是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）,從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有波長色散型和能量色散型兩種，適用于測定鈹 (Be)以上的化學元素的含量。它的優點是不破壞樣品，分析速度快，分析精度高，樣品制備簡單。X射線熒光光譜儀還可以用于微區分析及確定分層和涂層的厚度和成分。X-射線與物質的交換XRF熒光光譜儀是可以

X射線熒光光譜分析技術(XRF)是利用X射線與物質產生的X射線熒光而進行的元素分析方法,采用探測器檢測特征X射線熒光的能量和強度,從而實現定性和定量分析。X射線熒光光譜分析具有快速、多元素分析、制樣簡單、重現性好、準確度高、非破壞性和對環境無污染等特點,被廣泛應用于多領域的樣品分析。硫化銅礦石作為國家戰略礦石之一,對其快速準確分析在開發利用方面具有重要意義。目前,礦物、礦石樣品傳統分析周期長,操作繁瑣,不適合日常快速分析的要求。開發了X射線熒光光譜法快速測定硫化銅礦中主量元素的分析方法,實驗采用玻璃熔融法制備硫化銅

來源：分析測試百科網我國學者對不同時期WDXRF的進展曾予以評述。WDXRF譜儀從儀器光路結構來看，依然是建立在布拉格定律基礎之上，但儀器面目全新。縱觀30年來的發展軌跡，可總結出如下特點 。(1) 現代控制技術的應用使儀器精度大幅度提升。WDXRF譜儀在制造過程中，從20世紀80年代起，一些機械部件為電子線路所取代，電子線路又進而被軟件所取代。如一些儀器制造商分別用無齒輪莫爾條紋測角儀和激光定位光學傳感器驅動測角儀，取代傳統θ/2θ齒輪機械運動的測角儀，2θ掃描精度也由齒輪機械運動的±0.001&d