熱門關(guān)鍵詞:X射線熒光光譜儀 光譜儀價格 鋁合金標(biāo)樣 手持式礦石分析儀
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SpectroMAXx型直讀光譜儀安裝前的準(zhǔn)備條件:1. 用戶必須做一條儀器專用地線(和其他儀器的地線分開),接地電阻小于1歐姆,(為了您的儀器正常使用,請務(wù)必認(rèn)真測量);2. 一臺交流參數(shù)穩(wěn)壓器(規(guī)格2KVA,單相220V) ,好使用廣東羅定產(chǎn)的鐵塔牌穩(wěn)壓器; 3. 兩瓶純氬氣,純度大于99.999%;4. 一塊氧氣表(參考規(guī)格:0-2.5MPA/0-25MPA);5. 用戶準(zhǔn)備用于將6×1MM銅管連接于氧氣表上的接頭。6. 一臺光譜磨樣機(jī)QMS-400,及一臺落地式砂輪機(jī),用于鋼鐵試樣表
一、X熒光光譜儀分析方法是一個相對分析方法,任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復(fù)操作可能性,所以用于制作標(biāo)準(zhǔn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品必須經(jīng)過同樣的制樣處理過程。X 射線熒光實(shí)際上又是一個表面分析方法,激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面,必須注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外,樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化,樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過程由于經(jīng)過多步驟操作,還必須防止樣品的損失和沾污。1、由樣品制備和樣品自身引起的誤差:(1) 樣品的均勻性。(2) 樣品的表面效應(yīng)。(3) 粉末樣品的粒度和處理方法。
光譜分析儀(www.sao06.com)的分析原理是將光源輻射出的待測元素的特征光譜通過樣品的蒸汽中待測元素的基態(tài)原子所吸收,由發(fā)射光譜被減弱的程度,進(jìn)而求得樣品中待測元素的含量。 任何元素的原子都是由原子核和繞核運(yùn)動的電子組成的,原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級,因此,一個原子核可以具有多種能級狀態(tài)。能量低的能級狀態(tài)稱為基態(tài)能級(E0=0),其余能級稱為激發(fā)態(tài)能級,而能低的激發(fā)態(tài)則稱為第一激發(fā)態(tài)。正常情況下,原子處于基態(tài),核外電子在各自能量低的軌道上運(yùn)動。如果將一定外界能量如光能提
影響直讀光譜儀分析結(jié)果的因素有那些 1、控制試樣 在實(shí)際工作中,由于試樣和標(biāo)準(zhǔn)樣品的冶金過程和某些物理狀態(tài)的差異,常常使工作曲線發(fā)生變化,通常標(biāo)準(zhǔn)樣品多為鍛造和軋制狀態(tài),而日常分析為澆鑄狀態(tài)。為了避免試樣因冶金狀態(tài)變化給分析結(jié)果帶影響,常常應(yīng)使用一個與分析試樣冶金狀態(tài)和物理狀態(tài)都一樣的控樣,來控制分析結(jié)果,控樣的元素含量應(yīng)位于工作曲線含量范圍內(nèi),并與分析試樣的含量越接近越好。同時,控制樣品的元素含量應(yīng)當(dāng)準(zhǔn)確可靠,成份分布均勻,外觀無氣孔、砂眼、裂紋等物理缺陷。 &nbs
光譜分析儀基本介紹 原子發(fā)射光譜分析是根據(jù)原子所發(fā)射的光譜分析儀光譜來測定物質(zhì)的化學(xué)組分的。在正常的情況下,原子處于穩(wěn)定狀態(tài),它的能量是低的,這種狀態(tài)稱為基態(tài)。但當(dāng)原子受到能量(如熱能、電能等)的作用時,原子由于與高速運(yùn)動的氣態(tài)粒子和電子相互碰撞而獲得了能量,使原子中外層的電子從基態(tài)躍遷到更高的能級上,處在這種狀態(tài)的原子稱激發(fā)態(tài)。電子從基態(tài)躍遷至激發(fā)態(tài)所需的能量稱為激發(fā)電位,當(dāng)外加的能量足夠大時,原子中的電子脫離原子核的束縛力,使原子成為離子,這種過程稱為電離。原子失去一個電子成為離子時
SPECTRO公司的光譜儀解決石油化學(xué)工業(yè)分析的方法包括用于煉油廠金屬鑒別的儀器、用于原油分析的儀器、用于燃料油、潤滑油和塑料監(jiān)測的儀器以及使用過的潤滑油及廢油中磨損材料和殘留物分析的儀器。由于元素硫?qū)Ξa(chǎn)品性能的影響和對環(huán)境的影響,所以它受到特別的關(guān)注。SPECTRO公司的解決方法幫助你遵從法定的準(zhǔn)則和標(biāo)準(zhǔn)。對于燃料油、生物燃料油和船用燃料油在生產(chǎn)和使用中的要求,SPECTRO公司提供特別的解決方法,能使生產(chǎn)過程佳化并且使之符合有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)和準(zhǔn)則。 附加的資料 &n
光譜分析儀簡單介紹根據(jù)現(xiàn)代光譜分析儀的工作原理,光譜儀可以分為兩大類:經(jīng)典光譜儀和新型光譜儀。經(jīng)典光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器:新型光譜儀器是建立在調(diào)制原理上的儀器.經(jīng)典光譜儀器都是狹縫光譜儀器。調(diào)制光譜儀是非空間分光的,它采用圓孔進(jìn)光根據(jù)色散組件的分光原理,光譜儀器可分為:棱鏡光譜儀,衍射光柵光譜儀和干涉光譜儀.光學(xué)多道OMA(Optical Multi-channel Analyzer)是近十幾年出現(xiàn)的采用光子探測器(CCD)和計算機(jī)控制的新型光譜分析儀器,它集信息采集,處理,存儲諸功能于一體。由于OM
光譜分析儀發(fā)射光譜分析的過程 原子發(fā)射光譜分析(光譜分析儀)是根據(jù)原子所發(fā)射的光譜來測定物質(zhì)的化學(xué)組分的。在正常的情況下,原子處于穩(wěn)定狀態(tài),它的能量是低的,這種狀態(tài)稱為基態(tài)。但當(dāng)原子受到能量(如熱能、電能等)的作用時,原子由于與高速運(yùn)動的氣態(tài)粒子和電子相互碰撞而獲得了能量,使原子中外層的電子從基態(tài)躍遷到更高的能級上,處在這種狀態(tài)的原子稱激發(fā)態(tài)。電子從基態(tài)躍遷至激發(fā)態(tài)所需的能量稱為激發(fā)電位,當(dāng)外加的能量足夠大時,原子中的電子脫離原子核的束縛力,使原子成為離子,這種過程稱為電離。原子失去一個
德國斯派克直讀光譜分析儀器對環(huán)境要求較高,一般來說,直讀光譜分析儀使用空間要在12平方米以上;防塵,好遠(yuǎn)離強(qiáng)電場及強(qiáng)磁場的場所;避免振動遠(yuǎn)離粉塵;溫度: 15 - 30°C, 允許的大溫度變化:± 5 °C/小時;濕度: 20 - 80%。根據(jù)直讀光譜儀的外觀尺寸進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室設(shè)計,且應(yīng)將光譜分析儀與制樣設(shè)備分開房間放置,為日常操作方便,應(yīng)在儀器的后,左,右留下一米左右空間。在前方的操作面前留有足夠空間,推薦的實(shí)驗(yàn)室儀器間面積應(yīng)在12 平米以上。建議放置儀器的房間與放置氬氣及制樣設(shè)備的
通常情況下,越是大型的分析儀器對電源的要求越是高,德國斯派克光譜儀也不例外。德國斯派克光譜儀及所有附件及循環(huán)冷卻水系統(tǒng)均采用單相交流三線制供電,即火線、零線和地線。電源插座安防在相應(yīng)的設(shè)備后面的墻上,其要求必須安裝32A的220V單相空氣開關(guān)。穩(wěn)定的電源對于德國斯派克儀器測定數(shù)據(jù)的重現(xiàn)性和再現(xiàn)性是極為重要。由于市電電壓波動比較大,電源的電壓難以穩(wěn)定,無法為ICP光譜儀提供穩(wěn)定的電壓;為了確保ICP光譜儀正常工作和測定數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確,需要配備適宜的穩(wěn)定電源或不間斷電源(UPS)來保證儀器有相對穩(wěn)定的電壓。儀器要求其電源電
眾所周知,光譜分析儀是一種常用的分析儀器,是根據(jù)原子所發(fā)射的光譜來測定物質(zhì)的化學(xué)組分的,應(yīng)用領(lǐng)域較為廣泛。但是用戶對于光譜分析儀器的一些性能特征是否有所了解?想要更好的使用該產(chǎn)品對其了解是必不可少的,下面儀德公司將具體介紹光譜分析儀。光譜分析儀器光譜分析儀的性能特點(diǎn):1、獨(dú)立出射狹縫金屬整縫的特點(diǎn)是儀器調(diào)試方便、快捷,便于出射狹縫增加通道節(jié)約成本。2.自動描跡自動描跡可大大縮短校準(zhǔn)儀器所用的時間,使儀器校準(zhǔn)變得簡單、方便,非專業(yè)人員既可進(jìn)行描跡操作。儀器設(shè)有內(nèi)部恒溫系統(tǒng)。大大減小了環(huán)境溫度變化對光學(xué)系統(tǒng)造成的漂移。
在當(dāng)今工業(yè)快速發(fā)展的社會,光譜分析儀器和化學(xué)分析儀器在冶金、化學(xué)、新材料開發(fā)、航空等眾多領(lǐng)域都有著廣泛應(yīng)用。可以說兩者各自存在優(yōu)點(diǎn)和不足。下面就來對其二者優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行分析:光譜分析儀器光譜分析儀優(yōu)點(diǎn):1、采樣方式靈活,對于稀有、貴重金屬的檢測和分析可以節(jié)約取樣帶來的損失;2、測試速率高,可設(shè)定多通道瞬間多點(diǎn)采集,并通過計算器實(shí)時輸出;3、對于一些機(jī)械零件可以做到無損檢測,而不破壞樣品,便于進(jìn)行無損檢測;4、分析速度較快,比較適用做爐前分析或現(xiàn)場分析,從而達(dá)到快速檢測;5、分析結(jié)果的準(zhǔn)確性是建立在化學(xué)分析標(biāo)樣的基礎(chǔ)上。
德國斯派克直讀光譜儀 ICAL智能校準(zhǔn)與傳統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化方法的區(qū)別傳統(tǒng)方法:n 每個元素通過高標(biāo)和低標(biāo)進(jìn)行校準(zhǔn)n 標(biāo)準(zhǔn)化按要求一步一步進(jìn)行,一般每個基體需激發(fā)4-6塊樣品 ICAL:n 僅需一塊樣品完成所有基體及元素的標(biāo)準(zhǔn)化n à因此所有標(biāo)準(zhǔn)化工作一步完成效率對比(以鐵、鋁、銅三個基體為例:)傳統(tǒng)方法:對儀器進(jìn)行完全標(biāo)準(zhǔn)化,三套標(biāo)準(zhǔn)化樣品逐一激發(fā)所需時間約45分鐘;ICAL標(biāo)準(zhǔn)化:只需一塊標(biāo)準(zhǔn)化樣品,5分鐘時間完成。***不單單只是單
1、光譜分類及原子光譜分析方法有哪些? 光譜按強(qiáng)度隨波長或頻率的分布輪廓,可分為線狀光譜、帶狀光譜和連續(xù)光譜;按能量傳遞方式可分為吸收光譜、發(fā)射光譜、熒光光譜和拉曼光譜;按電磁輻射的本質(zhì),光譜可分為:原子光譜、分子光譜、X射線能譜、γ射線能譜等。電磁波譜根據(jù)能量的高低排列由短波段的γ射線、X射線到紫外光、可見光、紅外光再到長波段的微波和射頻波,如表1所示的光譜類型。表1 電磁波譜與相關(guān)的光譜類型波長范圍電磁波區(qū)域光譜分析類型<0.005nmγ射線區(qū)(穆斯堡爾譜)0.005~10nmX射線區(qū)(X射線熒光光譜)10~
直讀光譜儀和X射線熒光均屬于發(fā)射光譜直讀光譜儀主要分為立式、臺式、移動三種,分析穩(wěn)定性和精度依次下降.X射線熒光主要分為波長、能量與便攜式三種,分析精度也是按照剛才的順序依次下降,功能依次是元素含量分析、元素半定量定性分析、定性分析元素分析類儀器:原子吸收、ICP(等離子體發(fā)射光譜儀)、ICP-MS(等離子體質(zhì)譜儀)、GD(輝光放電光譜儀)、GD-MS(輝光放電質(zhì)譜儀)、直流電弧光譜儀.以上都主要用戶樣品中元素分量的分析,當(dāng)然這些只是光譜系列的,色譜系類的儀器也可以進(jìn)行部分元素含量的分析除了以上儀器,還有一些主用的
直讀光譜儀操作手冊 第一章 光電光譜分析的基本原理 一、 光譜分析簡介 1、 電磁輻射的基本特征 光譜是按照波長(或波數(shù)、頻率)順序排列的電磁輻射。天空的彩虹、自然界的極光等均是人們早期觀察到的光譜,但它們僅是電磁輻射的很小的一部分可見光譜。還有大量的不能被人們直接看到的和感覺到的光譜,如γ射線、x射線、紫外線、紅外線、微波及無線電波等,這些也都是電磁輻射,它們只是頻率或波長不同而已。 電磁輻射實(shí)際是一種以巨大速度通過空間而
直讀光譜儀的分析原理:樣品在激發(fā)光源下被激發(fā), 其原子和離子躍遷發(fā)射出光, 進(jìn)入光學(xué)系統(tǒng)被色散成元素的光譜線. 對選定的內(nèi)標(biāo)線和分析線的強(qiáng)度進(jìn)行測量, 根據(jù)元素譜線強(qiáng)度與被測元素的濃度的相互 關(guān)系,采用持久曲線法和控制試樣法得到試樣中被測元素的含量.
直讀光譜儀的注意事項(xiàng):1 非崗位人員不得隨便進(jìn)入機(jī)房,機(jī)房內(nèi)禁止吸煙,吃食物.2 卸下火花臺板時要輕拿輕放,防止內(nèi)表面劃傷.取出火花室內(nèi)圓石英墊片和玻璃套管 時務(wù)必謹(jǐn)慎小心,防止操作不當(dāng)致其破碎.3 壓樣品夾子要垂直,不得在未夾好樣品時按激發(fā)鍵,不得在激發(fā)時觸摸或抬起樣品夾. ...
光譜儀器的定性分析是指:由于各種元素的原子結(jié)構(gòu)不同,在光源的作用下都可以產(chǎn)生自己特征的光譜。如果一個樣品經(jīng)過激發(fā)攝譜在感光板上有幾種元素的譜線出現(xiàn),就證明該樣品中有這幾種元素。這樣的分析方法就叫做光譜定性分析方法。光譜儀器用于定性分析方法有以下幾種:1.比較光譜分析法:這種方法應(yīng)用比較廣泛,它包括標(biāo)準(zhǔn)試樣比較法和鐵譜比較法。標(biāo)準(zhǔn)樣品比較法一般適用于單項(xiàng)定性分析及有限分析。鐵譜比較法它不但可以做單項(xiàng)測定還便于做全分析。2.譜線波長測量法:光譜分析儀器利用譜線波長測量法進(jìn)行定性分析是先測出某一譜線的波長,再查表確定存在
光電直讀光譜儀雖然本身測量準(zhǔn)確度很高,但測定試樣中元素含量時, 所得結(jié)果與真實(shí)含量通常不一致,存在一定誤差,并且受諸多因素的影響,有的材料本身含量就很低。下面就誤差的種類、來源及如何避免誤差進(jìn)行分析。 根據(jù)誤差的性質(zhì)及產(chǎn)生原因, 誤差可分為下面幾種: 1.系統(tǒng)誤差的來源 (1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不完全相同時,可能引起基體線和分析線的強(qiáng)度改變,從而引入誤差。 (2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不完全相同時,激發(fā)的特征譜線會有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。 (3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬